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“激光测厚仪的测量原理”参数说明
| 读数值： | 0.02（mm） | 测量范围： | 0-200（mm） |
| 分辨率： | 0.01（μm） | 尺寸： | 30 |
| 产量： | 10 |
“激光测厚仪的测量原理”详细介绍
保定市蓝鹏测控科技有限公司专业生产有多种测量仪器，其中激光测厚仪则为厚度检测设备，并且可以适用于多种行业，对钢板、钢带、木板、橡胶板、塑料板、玻璃板等各种板材的厚度均可进行检测。那么激光测厚仪的原来是怎样的呢?
激光测厚仪是利用激光位移传感器对厚度进行检测的设备，该测厚仪具有多种型号可供选择，并且可根据需求定制产品，激光测厚仪的使用为厚度检测带来巨大的便利。
基本测量原理一：
测量原理图一中激光位移传感器1和激光位移传感器2以固定间距A相对布置，工作时激光位移传感器1发射一束激光照射被测物的下表面。
下表面光斑的漫反射光在通过透镜系统返回到激光位移传感器1内的CCD或CMOS芯片上，通过对CCD或CMOS芯片上光斑的位置分析和计算，可以得到激光位移传感器1到被测物下表面的实际距离B1。
同理可以得到激光位移传感器2到被测物上表面的距离B2。用两个传感器之间的间距A减去两个传感器到被测物上下表面的距离 B1、B2即可得到被测物的厚度H。
位移传感器下方设置一个托板，用传感器测出托板与传感器间距L0，当托板上方放置被测物时，可用传感器测得被测物与传感器的间距L1。
将L0和L1的信号传输到计算机内装的测量系统后，即可计算(L0-L1)得出被测物的厚度H。在实际应用中，L0的数值将直接写入测量系统(系统还自带L0的较零功能)，在被测物放置到托板上后即可得出被测物的厚度。
利用这两种基本测量原理，我公司生产有多种测厚仪，激光测厚仪相对于超声波测厚仪精度更高，相对X射线测厚仪没有辐射污染。是高性能的厚度检测设备。
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